FSU50,频谱分析仪 FSU50,频谱分析仪

FSU50,频谱分析仪

主要特点
频率范围 20 Hz ～ 50 GHz  (使用外部混频器可达到 110 GHz/1 THz)
**的射频性能
相位噪声低 -- –128 dBc (1 Hz)，10 kHz载波偏置下的典型值为–133 dBc (1 Hz)
DANL –158 dBm (1 Hz)
三阶截止点（TOI）典型值 +25 dBm 
分辨率带宽 1 Hz ～ 50 MHz
动态范围*高，例如 3GPP ACLR 测量时高达 84 dB
采用预放 (R&S®FSU-B24) 测量 DANL 时
典型值–168 dBm (1 Hz)，20 GHz 时
典型值–155 dBm (1 Hz)，50 GHz 时
TOI、MC ACP(R)、OBW、CCDF、APD 等测量功能
满足蜂窝标准、无线连接性标准和一般性标准的测量应用，例如相位噪声、噪声系数、矢量信号分析等等
频谱分析仪
详细介绍
R&S®FSU 是一款高性能频谱分析仪，它具有出色的相位噪声、动态范围、测量精度，可满足射频分析的任何挑战，可广泛用于 67GHz 以下的航空航天和国防或常规微波应用领域。
R&S®FSU 出色的射频性能 
出色的射频性能一直是罗德与施瓦茨频谱分析仪的标志，R&S®FSU 继承了这一传统，具有以下无可比拟的**的射频指标：
频率范围：
R&S®FSU3：20 Hz ~ 3.6 GHz 
R&S®FSU8：20 Hz ~ 8 GHz 
R&S®FSU26：20 Hz ~ 26.5 GHz 
R&S®FSU43：20 Hz ~ 43 GHz 
R&S®FSU46：20 Hz ~ 46 GHz 
R&S®FSU50：20 Hz ~ 50 GHz 
R&S®FSU67：20 Hz ~ 67 GHz 
射频性能：
DANL 测量的典型值为 -158 dBm (1Hz)（无预放）
单边带相位噪声典型值 - 133 dBc (1Hz) @ 10 kHz 偏离，载波 640 MHz
相位噪声典型值 - 160 dBc/Hz @ 10 MHz 偏离，载波 640 MHz
三阶截止点典型值 25 dBm
1 dB压缩点典型值 13 dBm
WCDMA ACLR 动态范围为 77.5 dB / 84 dB（采用噪声校正）